在GJB8848標準中，針對電磁脈沖試驗方法，標準給出了三種試驗方法，包括：威脅級輻照試驗方法，PCI注入試驗方法，以及CW輻照試驗方法。一般主要采用威脅級輻照試驗方法（即EMP有界波或者水平極化試驗），當系統外部天線或者電纜無法進行威脅級輻照試驗時，則應對外部天線或電纜進行PCI注入試驗。PCI注入試驗容易產生更大的威脅級傳導電流。本電源設計目的為進行系統級電磁脈沖效應外部電纜和天線等進行大電流注入，滿足GJB8848所述的測試需求。

       干擾脈沖會引起存儲器數據丟失，傳輸數據出錯，設備功能紊亂，誤觸發，設備工作性能降低、重新啟動，以及暫時停止工作等問題。能量太高時，產生功能損壞，破壞主要是針對半導體器件與集成電路芯片，包括部件或回路間的高壓電擊穿、半導體 PN 結或器件燒毀、氧化層介質擊穿、集成電路燒毀，造成毀滅性的物理損傷，以避免其它電子設備遭受電磁脈沖擾動或損環。

（1）3CEMP - PCI - 2 kA

       短路電流：20 A - 2000 A連續可調

       輸出電壓：140 kV

       脈沖源內阻：≥ 60 Ω

       脈沖電流前沿時間：≤ 20 ns

       脈沖電流半寬時間：500 ns - 550 ns

（2）3CEMP - PCI - 5 kA：

       短路電流：100 A - 5000 A連續可調

       輸出電壓：300 kV

       脈沖源內阻：≥ 60 Ω

       脈沖電流前沿時間：≤ 20 ns

       脈沖電流半寬時間：500 ns - 550 ns

（3）AD-EMP/PCI/20/550-80kV/1kA

       輸出電壓峰值：10kV - 80kV

       輸出電流峰值：0.1kA - 1kA

       源阻抗：≥60Ω

       前沿時間：≤20ns

       半寬值：500ns-550ns

       重復頻率：2分鐘

       絕緣方式：絕緣油